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本发明为了解决现有技术中的杂散光分析方法仅分析到探测器焦面的杂散光分布，无法获得高能光源对系统稳定性的影响的缺陷，而提出一种用于高能激光光学系统的杂散光分析抑制方法及高能激光光学系统。本发明的方法包括：获取待分析的高能激光系统模型中光学系统...
该专利属于哈尔滨新光光电科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨新光光电科技股份有限公司授权不得商用。

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