专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
胜科纳米苏州有限公司
>
一种窄侧壁样品光电子能谱测试中消除干扰信号的方法以及样品夹具技术
>技术资料下载
下载一种窄侧壁样品光电子能谱测试中消除干扰信号的方法以及样品夹具的技术资料
文档序号:24165469
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及窄截面光电子能谱测试技术领域,尤其涉及一种窄侧壁样品光电子能谱测试中消除干扰信号的方法以及样品夹具。一种窄侧壁样品光电子能谱测试中消除干扰信号样品夹具,包括基板和固定板;所述基板的顶部设置有至少一个准直板,所述准直板沿所述基板的顶...
该专利属于胜科纳米(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过胜科纳米(苏州)有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。