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本申请提供了一种厚度检测装置。该装置包括：公共单元，公共单元为导电体；检测单元，与公共单元在第一方向上间隔设置，检测单元包括至少一个检测芯片，且检测芯片包括多个检测电极，公共单元在第一平面上的投影覆盖检测芯片在第一平面上的投影，第一平面与第...
该专利属于威海华菱光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过威海华菱光电股份有限公司授权不得商用。

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