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本发明提供用于使用集成式测试数据路径进行存储器I/O测试的技术。在实例中，一种用于操作存储器设备的输入/输出数据路径的方法可包含：在第一模式期间，在所述存储器设备的第一通道的数据端子处经由第一数据路径从所述第一通道的存储器阵列接收非测试信息...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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