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在半导体制造设备中用于持留化学品及减少污染的空气控制系统和方法技术方案
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下载在半导体制造设备中用于持留化学品及减少污染的空气控制系统和方法的技术资料
文档序号:2411944
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空气控制系统和/或化学品持留设备,用于来自半导体制造设备中湿法工作台装置的烟雾的环境控制。所述的空气控制系统适合于安装在敞口结构的湿法处理工作台或密闭的微环境湿法工作台,其包括气流源和气流排气装置(4),以使气流横向越过敞口化学品槽(6),...
该专利属于高级技术材料公司所有,仅供学习研究参考,未经过高级技术材料公司授权不得商用。
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