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本发明涉及一种面向存储器特征的增强型校验纠错装置，包括：算法编码模块，设置在存储器的写通路上，用于根据M位数据生成N位校验码，并把数据位和校验位写入存储器，其中，校验码包括CRC校验码和偶校验码；所述算法解码模块，设置在存储器读通路上，用于...
该专利属于上海高性能集成电路设计中心所有，仅供学习研究参考，未经过上海高性能集成电路设计中心授权不得商用。

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