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本发明提供一种用于测试半导体裸片的测试探针设备及方法，涉及半导体材料测试技术领域，包括检测台和测试装置，所述检测台的顶部固定连接有支撑杆，支撑杆的顶部固定连接有调节箱。该用于测试半导体裸片的测试探针设备，通过挤压杆挤压升降板的顶部来推动测试...
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