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本发明公开了一种基于像素编码的光栅位移检测方法，所述检测方法包括以下步骤：S1.光栅尺特征标记；S2.光栅图像采集；S3.光栅图像分割；S4.光栅特征信息提取及判定；S5.光栅标记像素位置编码；S6.待检索光栅实际位置获取。本发明的检测方法...
该专利属于广东工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过广东工业大学授权不得商用。

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