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公开了用于实现诸如总线集成存储器控制器(BIMC)的存储器控制器的方法和装置，该存储器控制器包括存储器内置自测试(MBIST)控制器或逻辑。MBIST控制器被配置为用于测试至少一个存储器设备，诸如片上系统中的堆叠式低功率双数据速率(LPDD...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

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