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本发明提供一种点胶方法,在形成第一封装胶体后间隔一设定时间后,待第一封装胶体微固化后再形成第二封装胶体,有效控制最后形成的封装胶体的胶体高度和胶体溢出量。同时,由于封装胶体采用两笔画胶形成,第二笔画胶时出胶位置可以更靠近接合线,使出胶量增大...该专利属于豪威半导体(上海)有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过豪威半导体(上海)有限责任公司授权不得商用。
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本发明提供一种点胶方法,在形成第一封装胶体后间隔一设定时间后,待第一封装胶体微固化后再形成第二封装胶体,有效控制最后形成的封装胶体的胶体高度和胶体溢出量。同时,由于封装胶体采用两笔画胶形成,第二笔画胶时出胶位置可以更靠近接合线,使出胶量增大...