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本发明公开了一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法。本发明包括单铼带涂样、质谱测量和数据校正三个步骤，其采用正热电离质谱测量法，基于Ce...
该专利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院核物理与化学研究所授权不得商用。

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