一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法技术

本发明专利技术公开了一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法。本发明专利技术包括单铼带涂样、质谱测量和数据校正三个步骤，其采用正热电离质谱测量法，基于Ce

A method of measuring cerium isotope ratio by thermoionization mass spectrometer

【技术实现步骤摘要】
一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法
本专利技术涉及同位素测量
，具体涉及一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法。
技术介绍
在稀土元素示踪体系中，La-Ce体系是自然条件下唯一具有可变价衰变子体元素的同位素体系，Ce在氧化条件下易由Ce3+转化为Ce4+，进而形成难溶于水的CeO2，从而与其他稀土元素发生分离，进而改变铀矿石中La-Ce平衡和138Ce增长速率，因此Ce同位素比值可反映地质环境氧化还原条件的改变。然而，该变化极其微小，为利用这一理想的同位素示踪剂，Ce同位素比值的测量精度需要优于8×10-5。Ce同位素比值的高灵敏度高精度测量，主要依赖于高效的化学分离与质谱技术的发展。目前，热电离质谱法被视为最有效的Ce同位素比值分析技术。使用热电离质谱法对Ce同位素比值的高精度测量，通常可以通过测量CeO+离子或Ce+离子来实现。CeO+离子分析模式较为普遍，该方法以稀HNO3溶液或稀HNO3与H3PO4混合溶液涂样，以提供足够的氧来促进CeO+离子的产生，因为元素Ba为二价，不容易形成BaO+，因此CeO+离子分析方式的最本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/n步骤(1)单铼带涂样；/n步骤(2)质谱测量；/n步骤(3)数据校正。/n

【技术特征摘要】
1.一种热电离质谱仪测量铈同位素比值的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
步骤(1)单铼带涂样；
步骤(2)质谱测量；
步骤(3)数据校正。


2.根据权利要求1所述的铈同位素比值热电离质谱测量方法，其特征在于：步骤(1)具体包括以下步骤：
步骤(1.1)将单铼带放置于除气装置中，接入电流，持续供电；
步骤(1.2)从除气装置中取出单铼带，置于涂样装置上，对单铼带接入电流；
步骤(1.3)用微量移液器在单铼带的铼灯丝上滴加一定浓度的TaF5溶液；
步骤(1.4)待溶液蒸干后，用微量移液器在单铼带的铼灯丝上滴加Ce溶液；
步骤(1.5)调节单铼带电流完成烧带；
步骤(1.6)取下涂样后的单铼带待测。


3.根据权利要求2所述的铈同位素比值热电离质谱测量方法，其特征在于：所述的步骤(1.3)中，TaF5溶液的浓度为0.2mol/L～0.8mol/L。


4.根据权利要求2所述的铈同位素比值热电离质谱测量方法，其特征在于：步骤(2)具体包括以下步骤：
步骤(2.1)将单铼带放置于样品转盘，将样品转盘放置于质谱仪离子源内；
步骤(2.2)对离子源抽真空处理；
步骤(2.3)将单铼带中的铼灯丝电流以一定速度升高至Ce离子流出现；
步骤(2.4)对离子流峰中心进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵学鹏，樊怡辰，卜文庭，龙开明，汤磊，刘雪梅，郝樊华，谢波，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院核物理与化学研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51