下载一种太阳能级多晶硅基体金属杂质测量方法的技术资料

文档序号:23930459

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本发明公开了一种太阳能级多晶硅基体金属杂质测量方法,包括步骤:试样准备;试样处理;待消解完毕取出消解罐,冷却后,将消解液倒入赶酸罐中,并将赶酸罐置于赶酸器中,待试样蒸干后,加入超纯氢氟酸,继续蒸干,取出冷却,加入2g硝酸溶液;制备试样空白;...
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