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一种待激光切割晶圆的筛选系统，包括：承载台，用于承载晶圆，所述晶圆一表面侧具有反射层；反射率检测器，包括：第一光源和/或第二光源；检测模块和对比模块，能执行如下步骤：检测晶圆的反射层表面对第一光源的第一反射率T1，然后比对第一反射率T1与一...
该专利属于厦门三安光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门三安光电有限公司授权不得商用。

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