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本发明涉及一种分光测定中的光谱解析、特别是基于光谱高速分类的光谱解析技术的改良。一种光谱解析装置(10)，具备测定对象试样(30)的试样光谱的测定单元(20)和解析该试样光谱的解析单元(40)，用于确定对象试样(30)中含有的化合物，所述光...
该专利属于日本分光株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日本分光株式会社授权不得商用。

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