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本发明公开了一种微波物位计阶跃响应时间测量装置及方法，包括第一模拟板、第二模拟板、电动转盘、被测微波物位计、数据采集仪；所述第一模拟板和第二模拟板的位置根据被测微波物位计的波束角确定；所述被测微波物位计固定安装在电动转盘上；所述数据采集仪通...
该专利属于上海市计量测试技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过上海市计量测试技术研究院授权不得商用。

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