【技术实现步骤摘要】
一种微波物位计阶跃响应时间测量装置及方法
本专利技术涉及微波物位计阶跃响应时间测量领域，具体为一种微波物位计阶跃响应时间测量装置及方法。
技术介绍
微波物位计是利用微波在被测物料面上的反射及传播时间来检测物料面位置的一种仪表，类似于雷达，故又称雷达物位计。天线向被测物料面发射微波脉冲，在传播到物料面时，由于被测物料的介电率与空气不同，微波在物料面上产生反射，回波被天线接收。微波脉冲从发射到接收的行程时间与天线到物料面的距离(物位)成正比。实际应用中，以测量液位较常见，故又称微波液位计或雷达液位计。阶跃响应时间是微波物位计重要的动态性能指标，其定义是从输入变量发生阶跃变化的瞬间起，到输出变量第一次达到最终稳态值与初始稳态值之差的规定百分数的瞬间的时间间隔。通常采用的规定百分数为90％。目前国内尚无微波物位计阶跃响应时间的测量装置及方法，给其产品性能验证工作带来不便。另一方面，由于被测量参数物理性质的不同，所以测量环境不同，产生阶跃的方法也不同，故不能参照其它仪器仪表阶跃响应时间的测量装置及方法。例如，我国计量技...
【技术保护点】
1.一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于，包括第一模拟板(1)、第二模拟板(2)、电动转盘(3)、被测微波物位计(4)、数据采集仪(9)；所述被测微波物位计(4)固定安装在电动转盘(3)上；所述数据采集仪(9)通过数据采集线(12)与被测微波物位计(4)相连；所述数据采集仪(9)连接有第一导线(7)、第二导线(8)，所述第一导线(7)上串联电压稳压源(6)后再与第一导体棒(5)相连，所述第二导线(8)与第二导体棒(13)相连；所述第一模拟板(1)、第二模拟板(2)放置在所述被测微波物位计(4)的两侧，所述第一模拟板(1)、第二模拟板(2)为非平行放置；所述被测微波...
【技术特征摘要】
1.一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于，包括第一模拟板(1)、第二模拟板(2)、电动转盘(3)、被测微波物位计(4)、数据采集仪(9)；所述被测微波物位计(4)固定安装在电动转盘(3)上；所述数据采集仪(9)通过数据采集线(12)与被测微波物位计(4)相连；所述数据采集仪(9)连接有第一导线(7)、第二导线(8)，所述第一导线(7)上串联电压稳压源(6)后再与第一导体棒(5)相连，所述第二导线(8)与第二导体棒(13)相连；所述第一模拟板(1)、第二模拟板(2)放置在所述被测微波物位计(4)的两侧，所述第一模拟板(1)、第二模拟板(2)为非平行放置；所述被测微波物位计(4)的中心线垂直于第一模拟板(1)时第一导体棒(5)与第二导体棒(13)接触导通，所述被测微波物位计(4)的中心线垂直于第二模拟板(2)时第一导体棒(5)与第二导体棒(13)处于断开状态。
2.根据权利要求1所述的一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于：所述第一模拟板(1)和第二模拟板(2)的大小能单独覆盖被测微波物位计(4)的信号波束。
3.根据权利要求1或2所述的一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于：所述第一模拟板(1)与被测微波物位计(4)的距离不等于所述第二模拟板(2)与被测微波物位计(4)的距离。
4.根据权利要求1所述的一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于：所述被测微波物位计(4)的中心线穿过电动转盘(3)的旋转中心。
5.根据权利要求4所述的一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于：所述第二导体棒(13)固定安装在电动转盘(3)上。
6.根据权利要求1所述的一种微波物位计阶跃响应时间测量装置，其特征在于：所述电压稳压源(6)的输出电压值与数据采集仪(9)第一通道(10)的量程相匹配；所述第一导线(7)、第二导线(8)连接到数据采集仪(9)的第一通道(10)上，所述数据采集线(12)连接到数据采集仪(9)的第二通道(11)上；所述数据采集仪(9)的时间分辨力优...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘波，郑伟，李雪菁，朱鹏飞，李海洋，何永兴，金愿，钟一峰，
申请(专利权)人：上海市计量测试技术研究院，
类型：发明
国别省市：上海;31
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