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低温XRD测试装置、测试设备、测试系统制造方法及图纸
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文档序号:23786192
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本发明涉及低温XRD测试技术领域,具体地,涉及一种低温XRD测试装置、测试设备、测试系统。其中,低温XRD测试装置包括:内密封腔体,内密封腔体上设置有进气口和出气口;外密封腔体,外密封腔体包覆于内密封腔体外侧;外密封腔体与内密封腔体之间形成...
该专利属于中国科学院化学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院化学研究所授权不得商用。
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