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本发明涉及一种使用包括磁力计阵列的追踪设备来估计磁体(2)的位置的方法，该方法包括：确定与磁体相关的初始状态矢量的阶段；测量有用磁场的阶段；估计磁场的阶段；计算估计的磁场与测量的磁场之间的偏差的阶段；以及基于该偏差更新状态矢量的阶段。该方法...
该专利属于ISKN公司所有，仅供学习研究参考，未经过ISKN公司授权不得商用。

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