本发明涉及一种使用包括磁力计(M

本发明涉及一种使用包括磁力计阵列的追踪设备来估计磁体(2)的位置的方法，该方法包括：确定与磁体相关的初始状态矢量的阶段；测量有用磁场的阶段；估计磁场的阶段；计算估计的磁场与测量的磁场之间的偏差的阶段；以及基于该偏差更新状态矢量的阶段。该...

本发明涉及一种用于估计磁性物体(2)的参考轴(Aref)和与所述磁性物体(2)的磁矩(m)共线的磁轴之间的角度偏差

本发明公开了一种跟踪相对于磁力计阵列移动的磁体的位置的方法。基于由阵列的每个磁力计检测到的磁场来估计磁体的位置。该估计基于考虑先前建立的参考磁场，该参考磁场从每个磁力计检测到的磁场中被减去，以形成差分测量。对磁体的位置的各个连续地估计使...