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存储器测试技术，本文描述的各种实现涉及一种具有第一电路和第二电路的集成电路。第一电路接收第一输入数据并绕过纠错电路以确定第一输入数据是否具有一个或多个第一错误。第二电路接收第二输入数据并使能纠错电路以确定第二输入数据是否具有一个或多个第二错...
该专利属于ARM有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ARM有限公司授权不得商用。

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