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本发明公开了一种ITO缺陷检测方法，步骤如下：S1：对ITO电路通电，使之发热；S2：对发热的ITO电路进行热成像，得到热成像图片；S3：对所述热成像图片进行处理，得到ITO电路图片；S4：依据所述ITO电路图片，检测所述ITO电路的缺陷。...
该专利属于信利光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过信利光电股份有限公司授权不得商用。

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