一种ITO缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种ITO缺陷检测方法，步骤如下：S1：对ITO电路通电，使之发热；S2：对发热的ITO电路进行热成像，得到热成像图片；S3：对所述热成像图片进行处理，得到ITO电路图片；S4：依据所述ITO电路图片，检测所述ITO电路的缺陷。该ITO缺陷检测方法基于热成像对ITO缺陷进行检测，具有较高的检测精度。本发明专利技术还公开了一种ITO缺陷检测系统。

An ITO defect detection method and system

【技术实现步骤摘要】
一种ITO缺陷检测方法及系统
本专利技术涉及ITO检测领域，尤其涉及一种ITO缺陷检测方法及系统。
技术介绍
ITO是一种透明电极材料，常溅镀成膜于玻璃基板或塑料薄膜等透明衬底的表面上，然后通过刻蚀工艺制作成各种透明电路图案，主要用于生产显示屏和触摸屏等电子元件，是电子工业的基础材料。在ITO产品的制备及运输过程中，ITO电路常会出现各种缺陷，比如贴合偏移、划伤、划痕、端线、残缺等，需要将存在缺陷的ITO产品分拣出来。目前，ITO产品的缺陷检测主要依靠检测人员利用人眼进行观察和判断，工作量极大，检测人员因疲劳容易产生误判和漏判，而且每个人的视力、观察力和判断标准都不一致，没有统一的检测标准，无法做到标准化和快速化。尽管目前已经存在基于机器视觉对ITO缺陷进行检测的全自动光学检测系统，但是因ITO的高透特性，光学检测系统的摄像头所拍摄到的ITO电路图片中，ITO电路和透明衬底之间的灰度差异低，难以对ITO电路和透明衬底进行区分，检测精度不高，使用价值低。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的不足，本专利技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ITO缺陷检测方法，其特征在于，步骤如下：/nS1：对ITO电路通电，使之发热；/nS2：对发热的ITO电路进行热成像，得到热成像图片；/nS3：对所述热成像图片进行处理，得到ITO电路图片；/nS4：依据所述ITO电路图片，检测所述ITO电路的缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种ITO缺陷检测方法，其特征在于，步骤如下：
S1：对ITO电路通电，使之发热；
S2：对发热的ITO电路进行热成像，得到热成像图片；
S3：对所述热成像图片进行处理，得到ITO电路图片；
S4：依据所述ITO电路图片，检测所述ITO电路的缺陷。


2.根据权利要求1所述的ITO缺陷检测方法，其特征在于，步骤S3如下：
S3.1：将所述热成像图片转换为灰度图片；
S3.2：对所述灰度图片进行二值化处理，得到二值化图片；
S3.3：对所述二值化图片进行边缘检测，得到图案边缘；
S3.4：将所述图案边缘作为所述ITO电路的边缘，生成电路图案，得到所述ITO电路图片。


3.根据权利要求2所述的ITO缺陷检测方法，其特征在于，在步骤S3.2中，进行二值化处理之前，还包括：获取二值化阈值。


4.根据权利要求3所述的ITO缺陷检测方法，其特征在于，所述二值化阈值已预先设置。


5.根据权利要求3所述的ITO缺陷检测方法，其特征在于，获取二值化阈值的步骤如下：
提取出所述灰度图片中的灰度最大值；<...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷华森，郑海明，李锋，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44