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本发明公开了一种芯片带检测装置，包括压盖和检测座，压盖上开设有若干个导向孔；检测座上设有与导向孔相匹配的定位柱，检测座上表面可和压盖下表面贴合，检测座上表面开设有若干个可容纳芯片的凹槽，凹槽的深度大小和芯片的最大设计高度大小一致。通过相配合...
该专利属于东信和平科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东信和平科技股份有限公司授权不得商用。

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