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本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备与系统。芯片测试系统包括：测试设备，包括n条片选信号线和m组实体信号线；m*n个芯片测试位，每个所述芯片测试位耦接于所述n条片选信号线中的一条和所述m组实体信号线中的一组，且每个所述芯片测试位的信号线耦...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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