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本发明提供一种监测系统及监测方法，应用于晶圆测试设备的测试结果监测技术领域，所述监测系统至少包括：信号采集模块，用于采集待测试晶圆的测试开始信号和测试结束信号；信号处理模块，与所述信号采集模块相连，并接收所述测试开始信号和所述测试结束信号，...
该专利属于合肥晶合集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥晶合集成电路有限公司授权不得商用。

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