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本实用新型提供了一种可调IC测试座，包括基座和四个移动块，基座上设置有放置芯片的第一凹陷部，移动块设置在第一凹陷部中，弹性结构设置在第一凹陷部的内侧壁和移动块之间；移动块向靠近第一凹陷部的内侧壁的方向移动，弹性结构被压缩，增大第一凹陷部中放...
该专利属于深圳市容微精密电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市容微精密电子有限公司授权不得商用。

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