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本公开的某些方面涉及用于测试毫米波设备的方法和装置。该方法包括：针对测试腔室的至少一个天线确定DUT的参考天线响应，基于所确定的参考天线响应来为该至少一个天线生成一个或多个衰落系数，将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号，以及经由该...
该专利属于高通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高通股份有限公司授权不得商用。

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