用于测试毫米波设备的方法和装置制造方法及图纸

本公开的某些方面涉及用于测试毫米波设备的方法和装置。该方法包括：针对测试腔室的至少一个天线确定DUT的参考天线响应，基于所确定的参考天线响应来为该至少一个天线生成一个或多个衰落系数，将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号，以及经由该至少一个天线将该至少一个信号传送至测试腔室中的DUT。

Methods and devices for testing millimeter wave equipment

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于测试毫米波设备的方法和装置相关申请的交叉引用本申请要求于2017年11月29日提交的美国申请No.15/825,709的优先权，后者要求于2017年7月24日提交的题为“METHODSANDAPPARATUSFORTESTINGMILLIMETERWAVEDEVICES(用于测试毫米波设备的方法和装置)”的美国申请S/N.62/536,310的权益。前述申请通过援引全部纳入于此。领域本公开一般涉及通信系统，且更具体而言涉及与测试毫米波设备相关的方法和装置。背景无线通信系统被广泛部署以提供诸如电话、视频、数据、消息接发、和广播等各种电信服务。典型的无线通信系统可采用能够通过共享可用系统资源(例如，带宽、发射功率)来支持与多个用户通信的多址技术。此类多址技术的示例包括长期演进(LTE)系统、码分多址(CDMA)系统、时分多址(TDMA)系统、频分多址(FDMA)系统、正交频分多址(OFDMA)系统、单载波频分多址(SC-FDMA)系统、和时分同步码分多址(TD-SCDMA)系统。在一些示例中，无线多址通信系统可包括数个基站，每个基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试无线被测设备(DUT)的方法，所述方法包括：/n针对测试腔室的至少一个天线确定所述DUT的参考天线响应；/n基于所确定的参考天线响应来为所述至少一个天线生成一个或多个衰落系数；/n将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号；以及/n经由所述至少一个天线将所述至少一个信号传送至所述测试腔室中的所述DUT。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170724 US 62/536,310;20171129 US 15/825,7091.一种测试无线被测设备(DUT)的方法，所述方法包括：
针对测试腔室的至少一个天线确定所述DUT的参考天线响应；
基于所确定的参考天线响应来为所述至少一个天线生成一个或多个衰落系数；
将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号；以及
经由所述至少一个天线将所述至少一个信号传送至所述测试腔室中的所述DUT。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，非恒定增益被应用于所述至少一个所选择的群集。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个天线包括多个天线。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是针对所述至少一个天线的第一极性的，并且所述方法进一步包括：针对所述至少一个天线的第二极性确定所述DUT的第二参考天线响应。


6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是针对所述至少一个天线的多个极性的。


7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试腔室包括多个附加天线。


8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集，并且其中所述多个附加天线的每一者代表基于所述经群集延迟线模型和所述多个附加天线的一个或多个参考天线响应而从所述多个群集中选择的零个或更多个群集。


9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述至少一个信号与以下相对应：基于经群集的延迟线模型和所述参考天线响应而针对所述至少一个天线从多个群集中选择的至少一个群集，其中所述多个附加天线的每一者代表基于所述经群集延迟线模型和所述多个附加天线的一个或多个参考天线响应而从所述多个群集中选择的零个或更多个群集，并且其中非恒定增益被应用于所述零个或更多个所选择的群集的每一者。


10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括：针对所述多个附加天线的第二天线确定所述DUT的第二参考天线响应。


11.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，进一步包括：
针对所述多个附加天线的一者或多者确定所述DUT的一个或多个参考天线响应；
基于对应的一个或多个所确定的参考天线响应来为所述多个附加天线的该一者或多者中的每一者生成一个或多个衰落系数；
将针对所述多个附加天线的该一者或多者中的每一者所生成的一个或多个衰落系数应用于与所述多个附加天线的该一者或多者相对应的一个或多个信号；以及
经由所述多个附加天线中相对应的一者或多者来将所述一个或多个信号传送至所述测试腔室中的所述DUT。


12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是经波束成形的。


13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参考天线响应是定向的。


14.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，生成一个或多个衰落系数进一步基于经群集延迟线(CDL)模型。


15.一种测试装置，包括：
一个或多个天线；
存储器；以及
处理器，所述处理器被配置成：
针对所述测试装置的所述一个或多个天线中的至少一个天线确定所述DUT的参考天线响应；
基于所确定的参考天线响应来为所述至少一个天线生成一个或多个衰落系数；
将所生成的一个或多个衰落系数应用于至少一个信号；以及
经由所述至少一个天线将所述至少一个信号传送至所述测试装置中的所述DUT。

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【专利技术属性】
技术研发人员：M·L·维斯，P·马德胡苏德哈南，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US