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中国科学院半导体研究所
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基于变频技术的频率测量设备制造技术
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下载基于变频技术的频率测量设备的技术资料
文档序号:23628219
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本公开提供一种基于变频技术的频率测量设备,包括:激光源;信号接收模块;微波源;变频模块,进行变频生成变频后电信号并输出;电光调制模块,与所述信号接收模块、激光源、以及变频模块相连,输出第一调制后光信号和第二调制后光信号;微分模块,与所述电光...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。
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