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半导体存储装置制造方法及图纸
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文档序号:23560001
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实施方式提供一种可抑制电路面积及配线面积増加的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备:第1至第4平面,各自包含多个块;第1及第2信号线,分别与第1及第2平面连接;第1及第2总线,分别与第1及第3平面、及第2及第4平面共通连接;及控制电...
该专利属于东芝存储器株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东芝存储器株式会社授权不得商用。
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