温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请提供一种老化测试方法、设备及可读存储介质，包括：所述FPGA向所述VRM发送第一控制命令，以使所述VRM根据所述第一控制命令向所述被测芯片提供工作电压；所述FPGA通过与所述被测芯片连接的至少一个管脚向所述被测芯片传递预先设置的管脚状...
该专利属于海光信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。