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半导体存储装置制造方法及图纸
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下载半导体存储装置的技术资料
文档序号:23402845
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实施方式的半导体存储装置具备:第1电极及第2电极,在第1方向上对向配置;电阻变化膜,设置在所述第1电极与第2电极之间,且包含选自锗、锑及碲中的至少1种元素;及第1层,设置在电阻变化膜的与第1方向交叉的第2方向的侧面,且包含构成电阻变化膜的至...
该专利属于东芝存储器株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东芝存储器株式会社授权不得商用。
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