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一种测试设备包括测试安装电路，该测试安装电路上安装有多个半导体设备作为相应的被测设备。每个被测设备中包括对应的延迟控制电路和目标电路。提供电耦接到测试安装电路的测试逻辑器件。测试逻辑器件被配置为生成测试输入，测试输入被并行地提供给多个被测设...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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