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本发明涉及半导体制造技术领域，公开了一种减少闪存流片中使用的光罩数量的方法及其应用，方法包括采集闪存流片中现有光罩组的各光罩参数，并按照光罩标识号、光罩类型、封膜类型、光罩等级、图形明暗、图形种类参数进行分类，将光罩类型、封膜类型、图形明暗...
该专利属于合肥恒烁半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥恒烁半导体有限公司授权不得商用。

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