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本发明公开了一种偏振态检测系统中偏振态分析器的选择方法，该检测系统在测量装置中添加了空间变化的相位延迟器，从多次测量简化到一次测量，进一步的，为了此系统能普适到任意的空间变化的相位延迟器，在偏振态分析器的选择和控制上，进行了优化，优化步骤包...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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