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本发明公开了一种阵列基板、其检测方法、显示面板及显示装置，在任意一像素单元内的缓冲层、有源层、ITO等工艺过程中产生Particle导致short不良时，可通过激光熔融的方式使与该发生short不良的异常像素单元相邻且发光颜色相同的正常像素...该专利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司授权不得商用。