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本公开提供了一种MEMS衰减器测试装置，包括第一腔体，位于第二腔体和第三腔体；连接器，连机器包括第一连接器和第二连接器，第一连接器和第二连接器分别包括内导体，第一连接器旋入第一腔体中，第二连接器旋入第二腔体中；微带片，第一微带片固定在第二腔...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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