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用于微机电器件应力检测的片上谐振梁结构及检测方法技术
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文档序号:23320050
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本发明涉及一种用于微机电器件应力检测的片上谐振梁结构及检测方法,其包括微机电器件和谐振梁;微机电器件包括由上向下依次设置的结构层、锚点层和基片层;谐振梁采用U型结构,其设置在结构层和基片层之间,U型结构的顶部和底部的两端通过3个锚点固定到基...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。
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