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一种防止AD采样通道漏电的设计方法技术
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文档序号:23318117
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本发明公开的属于AD型集成电路AD采样通道的设计技术领域,具体为一种防止AD采样通道漏电的设计方法,该防止AD采样通道漏电的设计由PMOS1、PMOS2、PMOS3和NMOS1、NMOS2、NMOS3组成,本发明传输门结构,由PMOS1、P...
该专利属于无锡中微爱芯电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡中微爱芯电子有限公司授权不得商用。
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