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本发明涉及一种峰值检测单元及检测系统及检测方法，用于检测待测芯片中ESD二极管是否损坏。峰值检测单元包括的第一运算放大器A1的正输入端与输入端口P1电连接，第一运算放大器A1的负输入端与VSS端口P5电连接，第一运算放大器A1的输出端与引脚...
该专利属于广东晟合技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东晟合技术有限公司授权不得商用。

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