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基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计制造技术
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下载基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计的技术资料
文档序号:23312920
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本发明涉及一种基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计,包括基底、多个薄膜、多个导电件、多个导线及至少两个磁性件,各薄膜设置于基底的其中一面,每一薄膜上分别设置有两个导电件,每一导线的一端与一导电件连接,各导线的远离导电件的一端用...
该专利属于广州供电局有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广州供电局有限公司授权不得商用。
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