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本发明涉及一种平面波导阵列光栅解复用器的测试制具及其测试方法，其治具包括底座、竖直挡板、三维调节架、吸附组件和负压组件，竖直挡板设置在底座上，竖直挡板的上端设有定位治具，三维调节架滑动设置在底座上并位于竖直挡板的一侧，且当三维调节架滑动至与...
该专利属于武汉驿路通科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉驿路通科技股份有限公司授权不得商用。

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