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本申请提供一种测试系统及方法，该发明与现有测试系统相比，对测试系统进行了仿生的改进，将现有的测试系统增加了两类内容，一类为距离传感器、位移传感器、角度传感器、振动传感器、温度传感器、压力传感器，用于获取被测电子产品的状态信息，一类为连接状态...
该专利属于北京电子工程总体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京电子工程总体研究所授权不得商用。

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