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本发明公开了一种高精度三维工件尺寸检测系统及方法，该系统包括：线激光发射器，用于向待检测的物体发射激光线形成激光光条，激光光条对应物体的表面形状；图像采集装置，用于采集表面附有激光光条的物体表面图像；设备主控制器，用于将图像采集装置采集的物...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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