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本实用新型公开了一种半导体晶片测试设备，顶板上表面居中位置开设的圆槽内同心转动套接有第一转盘和第二转盘，第一转盘和第二转盘的顶端分别沿径向固定连接有第一支撑杆和第二支撑杆，第一支撑杆和第二支撑杆上分别滑动连接有测试头端子，第一转盘和第二转盘...
该专利属于广东全芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东全芯半导体有限公司授权不得商用。

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