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本实用新型公开了一种处理芯片测试夹具，其结构包括检测台、凹口、顶盖、测试箱、螺纹孔、底座和夹具座，检测台下表面与底座上表面相贴合，夹具座上设有凹口，夹具座上表面与顶盖下表面相焊接，顶盖位于测试箱上方，测试箱外表面嵌入安装于检测台上，该测试夹...
该专利属于深圳市芯汇群微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯汇群微电子技术有限公司授权不得商用。

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