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一种测量等离子体电子非广延参数的方法技术
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文档序号:23215568
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本发明涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法,采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。本发明将等离子体由非广延统计力学描述,并在此基础上建立非广延电单探针(测量)理论。应用非广延电单探针我们测得了传统电单探针无法测得的电子非广延...
该专利属于南昌大学所有,仅供学习研究参考,未经过南昌大学授权不得商用。
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