一种测量等离子体电子非广延参数的方法技术

本发明专利技术涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法，采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。本发明专利技术将等离子体由非广延统计力学描述，并在此基础上建立非广延电单探针(测量)理论。应用非广延电单探针我们测得了传统电单探针无法测得的电子非广延参数，并且获得了较传统单探针更精确的电子温度、等离子体电位、电子密度和悬浮电位。通过本发明专利技术的技术方案，非广延电探针在等离子体诊断中发挥作用，将测量等离子体非广延性，并提高其它等离子体参数的诊断精度。

A method to measure the electron non extensive parameters of plasma

【技术实现步骤摘要】
一种测量等离子体电子非广延参数的方法
本专利技术涉及等离子体非广延参数诊断领域，具体涉及一种测量等离子体电子非广延参数的方法。
技术介绍
等离子体广泛存在于宇宙中，常被视为是除去固、液、气外，物质存在的第四态。将固体加热到熔点时，粒子的平均动能超过晶格的结合能，固体会变成液体；将液体加热到沸点时，离子的动能超过粒子之间的结合能，液体会变成气体。如果进一步对气体加热，气体则部分电离或完全电离，即原子的外层电子会摆脱原子核的束缚变成自由电子，而失去外层电子的原子变成带电的离子。当带电粒子的比例超过一定程度时，电离气体就会呈现出明显的电磁性质，而其中正离子和负离子(电子)的数目相等，因此被称之为等离子体。在等离子体参数诊断领域，许多等离子体参数(信息)由电探针诊断获得。等离子体中各成分(粒子)预设服从什么分布对电单探针测量至关重要，需要先预设待测等离子体可用什么统计力学来描述。等离子体的统计假说包括玻尔兹曼-吉布斯统计力学，在该假说中，等离子体各成分服从麦克斯韦-玻尔兹曼分布。然而，理论分析和大量实验证明等离子体各成分不满足玻尔兹曼-吉布斯统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量等离子体电子非广延参数的方法，其特征在于，采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量等离子体电子非广延参数的方法，其特征在于，采用非广延统计力学和电探针测量等离子体非广延参数。


2.根据权利要求1所述的一种测量等离子体电子非广延参数的方法，其特征在于，具体步骤为：
第一步，用非广延统计力学描述等离子体，求得非广延电单探针I-V曲线公式；第二步，收集电单探针I-V实验数据；第三步，采用第一步求得的非广延电单探针I-V曲线公式对第二步收集到的电单探针I-V实验数据进行非线性拟合；第四步，作拟合优度SSE-qF。曲线；第五步，求得最小SSE对应的电子非广延参数值；第六步，作拟合优度R2-qF。曲线；第七步，求得最大R2对应的电子非广延参数值；第八步，将第七步和第五步求得的...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱慧斌，周振宇，刘三秋，
申请(专利权)人：南昌大学，
类型：发明
国别省市：江西;36