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一种探针卡及一种晶圆测试设备，所述探针卡包括：电路板；两个以上的探针单元，位于所述电路板一侧表面上，包括若干探针；升降单元，连接所述探针单元与所述电路板，用于调整所述探针单元的高度。所述探针卡的各个探针单元高度能够单独调节。...
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